松下HL-C2高精度位移传感器

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松下HL-C2高精度位移传感器

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产品描述
参数

商品名称: 松下HL-C2高精度位移传感器
商品编号: 1062295188975276032

从近距离至远距离，备有四个不同的检测头。
长年积累的测量经验和最新数字技术相结合,
创造出优秀的三项基本性能。

CE 、Korean S Mark 、FDA 、Korean KCs 已取得。
CE : EMC指令
FDA : 仅一部分型号
韩国S标志 : 仅一部分型号

2013年5月可对应Ethernet的控制器HL-C21C登场。

可与本公司可编程控制器FP系列及三菱电机公司MELSEC系列实现无程序简单连接。
种类型号请点击。

特点

HDLC-CMOS传感器

为HL-C2 系列开发了专用的HDLC-CMOS 传感器。通过全新的CMOS 工艺技术和将信号处理电路集成于受光元件芯片上的“系统芯片”化技术，获得了高密度的受光元件和满意的处理速度。
突破性地实现了一般激光位移传感器难以达到的高分辨率和高速度。
HDLC：High Density Linear Cell

HiR透镜

全新设计的高分辨率透镜，将像差降低到小限度。
可将任何角度的光线在受光部以小点成像，实现了更高的精度。
HiR：High Resolution

MSGB

利用创新的光学技术和光圈结构，使理想的激光成为现实。另外，在投光量调整功能中采用新的算法，确保投光状态始终保持稳定。
MSGB：Micro Spot Gaussian Beam

高速计算处理

利用擅长于高速处理的专用IC 和创新的算法，在传感器检测头与控制器之间进行数字传输，同时兼顾测量值的高速传输和稳定性。

传感器检测头

■对应「扩散反射」&「正反射」
根据工件表面，在很难选定最适合的传感器的场合。即使是在这样的情况下，只有一台检测头情况下也可以保证安定的检测状态设置。

■受检工件容许倾斜的范围更宽
与以往相比，对倾斜的容许度提高了1.5倍，即使测量时工件发生变动，也能轻松检测。
[HL-C203BE(-MK)的情况]

■省空间的小型检测头
小型检测头，与本公司以往产品相比，体积比下降了约23%，可以将安装空间减小到极限程度。
[HL-C203BE(-MK)的情况]

控制器

■可连接两个检测头
可在控制器内对各个测量值进行计算。

■丰富的I/O
可以连接各种设备，可以通过这些设备对记录的数据进行显示、分析处理，以及对传感器进行控制。

■无偿提供API(Application Programming Interface)
可以通过USB连接的电脑使用控制HL-C2的API。还备有样品程序，有助于编程。

>>样品编程下载
※注意：请先登录控制机器网站会员方可下载。